異動解讀|Aehr Test Systems盤前下跌10.37%,半導體設備板塊持續承壓延續拋售

行情直擊
07/08

7月8日,Aehr Test Systems盤前下跌10.37%,報62.56美元/股,成交額48.58萬美元。該股近期隨半導體設備板塊劇烈波動,7月2日大跌17.13%後短暫反彈,7月7日再度下挫約10%,今日盤前延續跌勢。

同日半導體設備板塊個股繼續走弱,泰瑞達跌4.12%、應用材料跌3.88%、科磊跌3.84%、拉姆研究跌3.44%、阿斯麥跌1.95%,板塊系統性拋壓仍在持續。基本面方面,公司此前斬獲創紀錄4100萬美元AI芯片測試訂單,並於6月獲得硅光子老化系統後續訂單,下次財報將於7月14日發布。

(以上內容均基於市場公開消息,由程序或算法智能生成,僅作為股價異動提醒,不作為投資建議或交易依據。)

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